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徠卡顯微系統(tǒng)（上海）貿(mào)易有限公司《徠卡電鏡制樣產(chǎn)品資料_Leica EM TIC 3X離子研磨儀_樣本、參數(shù)、價格、應(yīng)用案例、配置對比等》產(chǎn)品樣本，共計18頁，8.58MB，PDF格式。

Leica EM TIC 3X 三離子束研磨儀：配置靈活、制作結(jié)果優(yōu)良、高通量
您是否需要制備硬的、軟的、多孔、熱敏感、脆性和/或非均質(zhì)多相復(fù)合型材料，獲得高質(zhì)量樣品表面，以適宜于掃描電子顯微鏡（SEM）分析和原子顯微鏡（AFM）檢測？Lecia EM TIC 3X采用的寬場離子束研磨系統(tǒng)非常適合能譜分析EDS，破譜分析WDS，俄歇分析Auger，背散射電子衍射分析EBSD。離子束研磨技術(shù)試用于多種多樣材質(zhì)樣品，獲得高質(zhì)量切割界面或拋光平面的解決方案。使用該技術(shù)對樣品進(jìn)行處理，樣品收到形變或損傷的可能性低，可暴露樣品內(nèi)部真實的結(jié)構(gòu)信息。
徠卡 EM TIC 3X 可以靈活選擇多種樣品臺，不僅試用于高通量試驗，也適合于特定制樣需求實驗室。依據(jù)您具體需求，每一臺徠卡 EM TIC 3X 都可裝配多種可切換樣品臺，如標(biāo)準(zhǔn)樣品臺，三樣品臺，旋轉(zhuǎn)樣品臺或冷凍樣品臺，應(yīng)用于常規(guī)樣品制備，高通量樣品制備，以及某些高分子聚合物，橡膠或生物材料等溫度敏感樣品制備。其于徠卡 EM VCT 環(huán)境傳輸系統(tǒng)連接，可以實現(xiàn)將冷凍的生物樣品表面受保護(hù)地被真空冷凍傳輸入鍍膜儀或冷凍掃描電鏡（Cryo-SEM）中，或應(yīng)用于地質(zhì)或工業(yè)材料樣品，實現(xiàn)真空傳輸。

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